CBF-220型平面辐射源

I R-2双波段发射率测量仪可在航天航空红外隐身、红外烘烤、建材、造纸、纺织等行业用于对材料红外辐射特性的测量研究。发射率是材料热物性的基本参数之一。近几年来随着红外技术、辐射传热学、辐射测量、太阳能研究、材料科学以及军事目标稳身技术的发展。新型发射率测量仪是采用反射率法的测试原理，即通过采用主动黑体辐射源测定待测物表面的法向反射率，进而测出其在特定红外波段的法向发射率的。它能测量常温样品在3μm-5μm，8μm-14μm和1μm-22μm三个波段的发射率。当有特殊需要时，它可通过专用的控温装置在-100℃~600℃任何温度范围内加热或冷却样品，从而对样品进行发射率变温测量。

主要用途：广泛用于红外测温仪及热像仪标定

测温范围：室温+5℃～300℃